講座主題：電阻抗斷層成像中的的正則化要领
講座時間：6月23日15:00
特邀專家：吕锡亮，武汉大学珞珈特聘教授，2018年入选教育部“长江学者奖励计划”青年学者项目。曾多次前往香港中文大学，奥地利科学院RICAM研究所，罗马尼亚Iasi大学从事会见研究事情。目前已在Math. Comp., Numer. Math., SIAM J. Sci. Comput., Inverse Problems，Math. Program.等国际权威杂志发表论文30余篇，主持国家自然科学基金项目多项。
講座內容：本次陈诉提出了一种电阻抗层析成像(EIT)的变分正则化要领。对于标量和矩阵系数，划分选择为H1 (TV)或L2函数作为罚函数。证明了正则化泛函的存在性和适定性。给出了有限元分析结果，并通过数值算例说明了该要领的有效性。
參與方式：2020/6/23 14:30-16:30 點擊鏈接入會，或添加至會議列表：https://meeting.tencent.com/s/1IlI4oaupzKF 腾讯聚会会议 ID：383 550 046 腾讯會議密碼：200623
溫馨提醒：請參與的同學以“學號+姓名”的方式進入騰訊會議會場。
